برای دانلود مقاله علمی لاتین خود از پایگاه های علمی همچون Science Direct , Elsevier, Cambridge Journals , Emerald , Highwire Press , JSTOR , NTIS (EV2) Scopus ,Web of Science (ISI), IEEE , Springerk , ACM , Proquestمی توانید مشخصات مقاله در خواستی خود را در این تالار اعلام کنید تا توسط توسط دیگر اعضا، دانلود و در اختیارتان قرار گیرد.
درخواست یک مقاله از ieee
عنوان مقاله :Fault Tree Analysis, Methods, and Applications
نویسندگان :
Author(s): Lee, W. S.
Dept. of Industrial Engineering; Durland Hall; Kansas State University; Manhattan, Kansas 66506 USA.
Grosh, D. L. ; Tillman, F. A. ; Lie, C. H.
تاریخ و محل انتشار:
This paper appears in:
Reliability, IEEE Transactions on
Date of Publication: Aug. 1985
|